201-54 工艺参数控制对钼粉粒度分布的影响研究平均粒度测定仪

工艺参数控制对钼粉粒度分布的影响研究平均粒度测定仪

通过变化MoO3原料粒度、一次和二次还原参数,采用汇美科HMK-22费氏粒度仪和汇美科激光粒度仪评价还原后的钼粉平均粒度和粒度分布组成.结果表明:MoO3原料粒度与还原后钼粉粒度和粒度分布之间 不存在直接的线性关系,原料粒度分布越宽还原后的钼粉平均粒度越小;一次还原MoO3料层厚度增大,还原后钼粉的粒度也增大,粒度分布变宽,D(0.5) 值略微减小;氢气露点升高,还原后钼粉的粒度大,粒度分布宽,D(0.5)值也较大;二次还原温度越低,钼粉的粒度越小,但还原温度变化对粒度分布的影响 较小.料层厚度增加、氢气流量减小,还原后的钼粉粒度均增大,粒度分布曲线右移.

工艺参数控制对钼粉粒度分布的影响研究

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